|
|
|
|||
| 研究分野 | 21 計測・分析技術 22 センサ 94 診断技術（装置） |
| キーワード | 逆問題、腐食モニタリング、電解処理、光計測、磁気計測 |
| 研究課題名 |
逆解析を適用した計測システムの開発 |
- （1）研究者のアピールポイント
-
逆問題とよばれる「間接的な測定から未知情報を同定する」問題は身の回りで見つけられるとても実際的な学問です。例えば医療工学で発展したX線CTやMRIも逆問題の一例です。観測できるものから、見えないものを同定したい要求は数多くあります。
直接観測できない場合の例
費用がかかりすぎる
対象が小さすぎる
危険でちかづけない
壊したり、傷つけたりしてはいけない
こんな場合は逆問題を思い出していただけたら幸いです - （2）研究室Webページ
- （3）アピールポイントを活用した研究の概要
-
DVDピックアップ収差計測器、近赤外光CT、腐食モニタリング、LSIメッキ装置の最適化、超解像磁気力顕微鏡など幅広い分野において逆問題を適用した計測装置を開発している。既存の計測器に逆問題の手法を適用して付加価値をつけたシステムの開発に取り組んでいます。
- （4）保有特許
-
特願2004-311218 高解像度パターン転写方法
特願2005-229250 蛍光画像検出方法
特願2005-330559 近接場光検出方法
特願2006-033404 電位差計測方法
特願2006-097698 磁界分布計測装置
| 研究略歴 | 1994年から現在 |
| 関連リンク |